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納米粒度分析儀

納米粒度分析儀

產品型號: NANOTRAC FLEX

所屬分類:納米粒度分析儀

產品時間:2023-10-28

簡要描述:NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光散射技術(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。

詳細說明:

納米粒度分析儀
NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光散射技術(DLS),引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布,外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。

eParticle Analyzer)研發成功,引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分樣品,面積及光強分

 

 

 

 

外部環境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環境要求:溫度,10-35°C

國際標準:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

 

主要特點:

• 采用先進的動態光散射技術,引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

• 異相多譜勒頻移技術,較之傳統的方法,獲得光信號強度高出幾個數量級,提高分析結果的可靠性。

• 可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。

• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

• 快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統獲得的能譜,縮短分析時間。

• 膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。

• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。



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